首頁 > 產(chǎn)品中心
OmniScan SX儀器有兩種型號(hào):SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元,與僅具有UT通道的SX UT一樣,也配備了一個(gè)常規(guī)UT通道,可以進(jìn)行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測(cè)。與OmniScan MX2相比,OmniScan SX重量輕33 %,體積小50 %,展現(xiàn)了OmniScan產(chǎn)品前所未有的便攜性能。
查看詳細(xì)奧林巴斯提供一套完整的高級(jí)相控陣集成解決方案,可以滿足您苛刻的檢測(cè)要求。這套解決方案包含以下設(shè)備和軟件:一種性能強(qiáng)大且可擴(kuò)展的采集設(shè)備:FOCUS PX;一款強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集和分析軟件程序:FocusPC;三個(gè)軟件開發(fā)包(SDK):FocusControl、FocusData和OpenView,可使您基于自己的應(yīng)用自行定制軟件界面,并通過對(duì)FocusPC的控制,實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)檢測(cè)操作。
查看詳細(xì)提供高級(jí)功能的OmniScan X3 64相控陣和TFM探傷儀 威力強(qiáng)大,小巧便攜 OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證、堅(jiān)固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼,其強(qiáng)大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持,可使您充分利用64晶片相控陣探頭,進(jìn)行128晶片孔徑的TFM檢測(cè)。 您可以利用這款儀器的增強(qiáng)性能,迎接檢測(cè)較厚、衰減性較強(qiáng)材料的挑戰(zhàn),并提升您的潛力,為更廣泛的應(yīng)用開發(fā)新程序。
查看詳細(xì)OmniScan X4多技術(shù)系列儀器是一種功能強(qiáng)大的便攜式解決方案,其高速度和多功能性可提升您的工作效率,同時(shí)增強(qiáng)您對(duì)評(píng)估工作的信心。利用其高級(jí)相控陣功能、高效的全聚焦方式(TFM) 和創(chuàng)新型相位相干成像(PCI)技術(shù),可以探測(cè)和解讀具有挑戰(zhàn)性的缺陷,并通過更早地識(shí)別損傷來確保資產(chǎn)的完整性。
查看詳細(xì)SO采用GNR獨(dú)立光室設(shè)計(jì),在保證優(yōu)異穩(wěn)定性的同時(shí),做到儀器的小型化,配上“單點(diǎn)校準(zhǔn)”的方便性,使得這款儀器在短時(shí)間內(nèi)獲得客戶的青睞,通過長時(shí)間市場(chǎng)的驗(yàn)證,SO極其可靠的性能,獲得了用戶的高度認(rèn)可。
查看詳細(xì)S9是一款可以滿足用戶個(gè)性化需求的高端光電直讀光譜儀,對(duì)于高端客戶特殊的配置需求提供一對(duì)一單獨(dú)配置,可以提供純PMT或PMT+CMOS或純CMOS配置,用戶可根據(jù)自己的需要指定哪些元素用什么檢測(cè)器分析。
查看詳細(xì)S6是GNR精心設(shè)計(jì)和制造的一款新型直讀光譜儀。這款設(shè)備采用先進(jìn)的CMOS技術(shù),結(jié)合強(qiáng)大的EOS軟件平臺(tái),實(shí)現(xiàn)了對(duì)黑色金屬和有色金屬完整元素光譜的精準(zhǔn)分析。
查看詳細(xì)S5是津鈉(GNR)公司經(jīng)典的一款全譜直讀光譜儀,采用500mm焦距分光室,既能夠檢測(cè)更多的元素,也能夠精準(zhǔn)地分析諸如 Sb、Ni、Bi、As、N等特殊元素
查看詳細(xì)